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品牌 | Harrick | 應用領域 | 電氣 |
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漫反射光譜法是檢測粗糙材料表面變化的一種非常靈敏的方法。它對具有高比表面積的粉末特別有效。這使得漫反射對于多相催化、氣固相互作用、光化學反應和氧化機制的研究非常寶貴。Harrick低溫反應室非常適合在仔細變化的溫度和壓力下進行此類研究。這些低溫反應室允許在廣泛的控制溫度和壓力下進行漫反射測量,并與用于FT-IR和UV-Vis漫反射光譜的漫反射配件一起使用。 設計用于高真空(133μPa或10-6托)至133 kPa(1 ktorr)和-150°C至600°C(真空條件下)的研究。
提供三個入口/出口,用于排空反應池和引入氣體。
由耐化學腐蝕的316不銹鋼制成。
HARRICK 低溫紅外附件包括
反應室
低壓加熱筒。
K型熱電偶。
樣品包裝工具和溢出托盤。
帶有兩個KBr窗口和一個玻璃觀察窗口的圓頂(FTIR配置)
帶有兩個SiO2窗口和一個玻璃觀察窗口的圓頂(UV-Vis-NIR配置)
HARRICK 光譜儀附件原位漫反射 搭配附件:
(1)漫反射裝置 DRP-XXX
(2)溫控儀ATK-024-6
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